Košík

0552955 - FZÚ 2022 RIV eng P - Patentový dokument
Nejdl, Jaroslav
Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof.
2021. Vlastník: Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Datum udělení patentu: 09.02.2021. Číslo patentu: US10914628B2
Grant CEP: GA MŠMT EF16_019/0000789; GA MŠMT(CZ) LM2018141
Grant ostatní: OP VVV - ADONIS(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000789
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: spectrometry * beam intensity profile diagnostics * XUV * X-rays
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/060327011/publication/US10914628B2?q=US10914628B2
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0328013