Košík

0551125 - ÚPT 2023 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Zouhar, Martin - Müllerová, Ilona - Fořt, Tomáš - Unčovský, M. - Materna Mikmeková, Eliška
Quantification of stem images in high resolution sem for segmented and pixelated detectors.
Nanomaterials. Roč. 12, č. 1 (2022), č. článku 71. E-ISSN 2079-4991
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Grant ostatní: AV ČR(CZ) StrategieAV21/6
Program: StrategieAV
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: STEM segmented detector * pixelated detector * scanning electron microscopy * Monte Carlo simulations * ray tracing * quantitative imaging
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 5.3, rok: 2022
Způsob publikování: Open access
https://www.mdpi.com/2079-4991/12/1/71
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0326569