Košík

0547875 - FZÚ 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Kovaleva, N. N. - Chvostová, Dagmar - Pacherová, Oliva - Muratov, A.V. - Fekete, Ladislav - Sherstnev, I.A. - Kugel, K.I. - Pudonin, F.A. - Dejneka, Alexandr
Bismuth layer properties in the ultrathin Bi–FeNi multilayer films probed by spectroscopic ellipsometry.
Applied Physics Letters. Roč. 119, Nov (2021), č. článku 183101. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA20-21864S; GA MŠMT(CZ) EF16_019/0000760
Grant ostatní: OP VVV - SOLID21(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000760
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: Bismuth * layer, properties * ultrathin Bi–FeNi * multilayer films * spectroscopic ellipsometry
Obor OECD: Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Impakt faktor: 3.971, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://doi.org/10.1063/5.0069691
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0324047