Košík

0544223 - ÚPT 2022 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Ma, Haili - Mikmeková, Šárka - Konvalina, Ivo - Yin, X. - Sun, F. - Piňos, Jakub - Vaškovicová, Naděžda - Průcha, Lukáš - Müllerová, Ilona - Mikmeková, Eliška - Chen, D.
Imaging ferroelectric nanodomains in strained BiFeO3 nanoscale films using scanning low-energy electron microscopy: Implications for low-power devices.
ACS Applied Nano Materials. Roč. 4, č. 4 (2021), s. 3725-3733. ISSN 2574-0970
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning low-energy electron microscopy (SLEEM) * BiFeO3 nanoscale films * ferroelectric nanodomains * low-loss backscattered electrons * multiferroic
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 6.140, rok: 2021
Způsob publikování: Omezený přístup
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsanm.1c00204
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0321265