Košík

0538507 - FZÚ 2021 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Espinoza Herrera, Shirly J. - Samparisi, F. - Frassetto, F. - Richter, Steffen - Rebarz, Mateusz - Finke, Ondřej - Albrecht, Martin - Jurkovič, Matěj - Hort, Ondřej - Fabris, N. - Zymaková, Anna - Mai, Dong-Du - Antipenkov, Roman - Nejdl, Jaroslav - Poletto, L. - Andreasson, Jakob
Characterization of the high harmonics source for the VUV ellipsometer at ELI Beamlines.
Journal of Vacuum Science and Technology. Part B. Nanotechnology & Microelectronics. Roč. 38, č. 2 (2020), s. 1-5, č. článku 024005. ISSN 2166-2746. E-ISSN 2166-2754
Grant CEP: GA MŠMT EF16_019/0000789; GA MŠMT EF15_003/0000447; GA MŠMT LQ1606
Grant ostatní: OP VVV - ADONIS(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000789; OP VVV - ELIBIO(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_003/0000447
Výzkumná infrastruktura: ELI Beamlines III - 90141
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: VUV ellipsometry * VUV polarizer * HHG * XUV ellipsometry
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 1.416, rok: 2020
Způsob publikování: Open access
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0316302