Košík

  1. 1.
    0517208 - ÚPT 2020 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
    Krátký, Stanislav - Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Horáček, Miroslav - Kolařík, Vladimír - Meluzín, Petr - Král, Stanislav
    SMV-2019-03: Tenké membrány.
    [SMV-2019-03: Thin membranes.]
    Brno: FEI Czech Republic, 2019. 5 s.
    Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
    Klíčová slova: e-beam lithography * wet etching * plasma etching * reactive ion etching
    Obor OECD: Nano-processes (applications on nano-scale)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0302493
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.