Košík

0508172 - ÚPT 2020 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Skoupý, Radim - Nebesářová, Jana - Šlouf, Miroslav - Krzyžánek, Vladislav
Quantitative STEM imaging of electron beam induced mass loss of epoxy resin sections.
Ultramicroscopy. Roč. 202, JUL (2019), s. 44-50. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA ČR GA17-15451S; GA MŠMT(CZ) LM2015062; GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344 ; RVO:61389013
Klíčová slova: scanning electron microscopy * scanning transmission electron microscopy * mass loss * epoxy resin * EMbed 812 resin * epon resin
Obor OECD: Polymer science; Optics (including laser optics and quantum optics) (BC-A); Polymer science (UMCH-V)
Impakt faktor: 2.452, rok: 2019
Způsob publikování: Omezený přístup
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399118304315?via%3Dihub
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0299148