0490843 - ÚI 2019 RIV CH eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Peštová, Barbora - Pešta, M.
Change Point in Panel Data with Small Fixed Panel Size: Ratio and Non-ratio Test Statistics.
Statistics and Simulation. Cham: Springer, 2018 - (Pilz, J.; Rasch, D.; Melas, V.; Moder, K.), s. 259-271. Springer Proceedings in Mathematics and Statistics, 231. ISBN 978-3-319-76034-6. ISSN 2194-1009. E-ISSN 2194-1017.
[IWS 2015. International Workshop on Simulation /8./. Vienna (AT), 21.09.2015-25.09.2015]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GBP402/12/G097
Institucionální podpora: RVO:67985807
Klíčová slova: Change point * Panel data * Change in mean * Hypothesis testing * Structural change * Ratio type statistics
Obor OECD: Statistics and probability
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-319-76035-3_18
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0284981

0496767 - ÚPT 2019 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Drozd, Michal - Knápek, Alexandr - Král, Stanislav - Matějka, Milan - Chlumská, Jana - Pavelka, Jan - Kolařík, Vladimír - Krátký, Stanislav - Horáček, Miroslav - Meluzín, Petr
Aparatura pro detekci nečistot v naneseném rezistu.
[Apparatus for detecting of particles in coated resist layer.]
Interní kód: APL-2018-05 ; 2018
Technické parametry: Jedná se o aparaturu používající pro skenování digitální kameru. Rozměry: 45x35x50 cm, rychlost skenování 1cm2/2min., rozlišení částic > 10 um. Typ podložek: Si destička 4‘a 6‘.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Alexandr Knápek, Ph.D., knapek@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR TG03010046; GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: e–beam lithography * quality control * image processing
Obor OECD: Automation and control systems
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0289410