Košík

0493487 - FZÚ 2019 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Vozda, Vojtěch - Burian, Tomáš - Chalupský, Jaromír - Dědič, V. - Hájková, Věra - Hlídek, P. - Juha, Libor - Kozlová, Michaela - Krůs, Miroslav - Kunc, J. - Rejhon, M. - Vyšín, Luděk - Rocca, J.J. - Franc, J.
Micro-Raman mapping of surface changes induced by XUV laser radiation in cadmium telluride.
Journal of Alloys and Compounds. Roč. 763, Sep (2018), s. 662-669. ISSN 0925-8388. E-ISSN 1873-4669
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA17-05167s; GA MŠMT LTT17015; GA MŠMT EF15_008/0000162
Grant ostatní: ELI Beamlines(XE) CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_008/0000162
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: semiconductors * laser processing * crystal structure * impurities in semiconductors * atomic force microscopy * AFM * luminescence
Obor OECD: Fluids and plasma physics (including surface physics)
Impakt faktor: 4.175, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286853