Košík

0492864 - FZÚ 2019 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Holovský, Jakub - Remeš, Zdeněk - Poruba, Aleš - Franta, D. - Conrad, B. - Abelová, L. - Bušek, D.
Measurement of doping profiles by a contactless method of IR reflectance under grazing incidence.
Review of Scientific Instruments. Roč. 89, č. 6 (2018), s. 1-6, č. článku 063114. ISSN 0034-6748. E-ISSN 1089-7623
Grant CEP: GA ČR GA18-24268S; GA MŠMT(CZ) LTC17029
Grant ostatní: AV ČR(CZ) KONNECT-007
Program: Bilaterální spolupráce
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: infrared reflectivity * silicon * layers * Si
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 1.587, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0286339