Košík

0489530 - ÚPT 2019 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Neděla, Vilém - Tihlaříková, Eva - Runštuk, Jiří - Hudec, Jiří
High-efficiency detector of secondary and backscattered electrons for low-dose imaging in the ESEM.
Ultramicroscopy. Roč. 184A, JAN (2018), s. 1-11. ISSN 0304-3991. E-ISSN 1879-2723
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: detectors * scintillators * low-dose imaging * energy filtration * MC simulations
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Impakt faktor: 2.644, rok: 2018
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0283928