Košík

0481759 - ÚPT 2018 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Mika, Filip - Paták, Aleš - Pokorná, Zuzana
Možnosti zobrazení a analýzy v rastrovacím elektronovém mikroskopu s vysokým rozlišením.
[Imaging and analysis with high resolution scanning electron microscope.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 62, č. 10 (2017), s. 245-247. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LO1212
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: scanning electron microscopy * display and analysis capabilities
Obor OECD: Particles and field physics
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277315