Košík

0477368 - ÚMCH 2018 CH eng A - Abstrakt
Coufalová, E. - Pavlova, Ewa - Šlouf, Miroslav - Štěpán, P. - Drštička, M. - Kolařík, V. - Hozák, Pavel
Comparison of LVEM5, LVEM25 and standard TEM.
Proceedings. Lausanne: Swiss Society for Optics and Microscopy, 2017. s. 507-508.
[Microscopy Conference. 21.08.2017-25.08.2017, Lausanne]
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
Institucionální podpora: RVO:61389013 ; RVO:68378050
Klíčová slova: electron microscopy * nanostructure of materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0274188