Košík

0470910 - FZÚ 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
van der Lit, J. - Di Cicco, F. - Hapala, Prokop - Jelínek, Pavel - Swart, I.
Submolecular resolution imaging of molecules by atomic force microscopy: the influence of the electrostatic force.
Physical Review Letters. Roč. 116, č. 9 (2016), 1-5, č. článku 096102. ISSN 0031-9007. E-ISSN 1079-7114
Grant CEP: GA ČR(CZ) GC14-16963J
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: AFM * submolecular resolution * molecules * surface
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 8.462, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0268420