Košík

0469656 - FZÚ 2017 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Zeipl, Radek - Jelínek, Miroslav - Vaniš, Jan - Remsa, Jan - Kocourek, Tomáš - Navrátil, Jiří
Scanning thermal microscopy of Bi₂Te₃ and Yb_0.19Co₄Sb₁₂ thermoelectric films.
Applied Physics A - Materials Science & Processing. Roč. 122, č. 4 (2016), s. 1-5, č. článku 478. ISSN 0947-8396. E-ISSN 1432-0630
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA13-33056S
Institucionální podpora: RVO:68378271 ; RVO:61389013
Klíčová slova: thermoelectric properties * thin nanolayers * pulsed laser deposition * scanning thermal microscope
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus; CA - Anorganická chemie (UMCH-V)
Impakt faktor: 1.455, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267475