Košík

    1.
    0469519 - ÚFE 2017 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Zeipl, R. - Jelínek, M. - Vaniš, Jan - Remsa, J. - Kocourek, T. - Navrátil, J.
    Scanning thermal microscopy of Bi2Te3 and Yb0.19Co4Sb12 thermoelectric films.
    Applied Physics A - Materials Science & Processing. Roč. 122, č. 4 (2016), č. článku 478. ISSN 0947-8396. E-ISSN 1432-0630
    Institucionální podpora: RVO:67985882
    Klíčová slova: thermoelectric properties * thin nanolayers * pulsed laser deposition * scanning thermal microscope
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.455, rok: 2016
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0267308
    Název souboruStaženoVelikostKomentářVerzePřístup
    UFE 0469519.pdf2890.8 KBJinávyžádat
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše