Košík

0468459 - ÚPT 2017 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Radlička, Tomáš - Oral, Martin - Rozbořil, Jakub
SMV-2016-20: Výpočty detekčních systémů rastrovacích elektronových mikroskopů.
[SMV-2016-20: Simulation of detection systems of scanning electron microscopes.]
Brno: FEI Czech Republic, s.r.o., 2016. 10 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: electron optics * electron microscopy * contrast optimization
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0266308