Košík

0465340 - ÚPT 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav - Nebesářová, Jana
Plasma cleaning effect on the stability of the Epon resin sections.
EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 597-598. ISBN 9783527808465.
[EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: STEM * plasma cleaning
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika (BC-A)
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.5995/pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263960