Košík

0465206 - ÚPT 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Skoupý, Radim - Nebesářová, Jana - Krzyžánek, Vladislav
Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 926-927. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01
Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
Klíčová slova: TEM * STEM * EFTEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika (BC-A)
Impakt faktor: 1.891, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263873