Košík

0463503 - FZÚ 2017 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Hájková, Zdeňka - Fejfar, Antonín - Ledinský, Martin - Píč, Vlastimil - Křížek, Filip - Šulc, D. - Nováček, Z. - Wertheimer, P.
Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou.
[Introduce scanning probe microscopy into education.]
Chemické listy. Roč. 110, č. 2 (2016), s. 153-159. ISSN 0009-2770. E-ISSN 1213-7103
Grant CEP: GA ČR GA14-15357S; GA MŠMT(CZ) LM2011026
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: scanning probe microscopy * scanning tunnelling microscopy * atomic force microscopy * models * demonstrations * analogies * educational materials
Kód oboru RIV: AM - Pedagogika a školství
Impakt faktor: 0.387, rok: 2016
http://chemicke-listy.cz/docs/full/2016_02_153-159.pdf
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263271