Košík

0463487 - ÚFM 2017 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Elhadidy, Hassan - Grill, R. - Franc, J. - Sik, O. - Moravec, P. - Schneeweiss, Oldřich
Ion electromigration in CdTe Schottky metal-semiconductor-metal structure.
Solid State Ionics. Roč. 278, OCT (2015), s. 20-25. ISSN 0167-2738. E-ISSN 1872-7689
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) ED1.1.00/02.0068
Institucionální podpora: RVO:68081723
Klíčová slova: M-S-M Structure * Electromigration * Au/CdTe interface * I-V characteristics * Current transients * Diffusion coefficient
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.380, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0262689