Košík

0463238 - FZÚ 2017 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Romanyuk, Olexandr - Bartoš, Igor - Brault, J. - De Mierry, P. - Paskova, T. - Jiříček, Petr
GaN quantum dot polarity determination by X-ray photoelectron diffraction.
Applied Surface Science. Roč. 389, Dec (2016), s. 1156-1160. ISSN 0169-4332. E-ISSN 1873-5584
Grant CEP: GA ČR GA15-01687S; GA MŠMT LM2015088
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: GaN * semipolar GaN * quantum dots * X-ray photoelectron diffraction * surface polarity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.387, rok: 2016
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0262652