Košík

0456224 - FZÚ 2016 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Telychko, Mykola - Berger, Jan - Majzik, Zsolt - Jelínek, Pavel - Švec, Martin
Graphene on SiC (0001) inspected by dynamic atomic force microscopy at room temperature.
Beilstein Journal of Nanotechnology. Roč. 6, Apr (2015), s. 901-906. ISSN 2190-4286. E-ISSN 2190-4286
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-02079S; GA ČR GB14-37427G
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: graphene * AFM * STM * DFT * atomic resolution
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.778, rok: 2015
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0256784