Košík

0436824 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Krzyžánek, Vladislav - Novotná, V. - Hrubanová, Kamila - Nebesářová, J.
Beam damage of embedding media sections and their investigations by SEM.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR(CZ) GA14-20012S
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: beam damage * mass determination * ADF imaging
Kód oboru RIV: JB - Senzory, čidla, měření a regulace
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240483