Košík

0434107 - ÚPT 2015 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Schauer, Petr - Bok, Jan
Innovation possibilities of scintillation electron detector for SEM.
18th International Microscopy Congres. Proceedings. Praha: Czechoslovak Microscopy Society, 2014. ISBN 978-80-260-6720-7.
[International Microscopy Congres /18./. Praha (CZ), 07.09.2014-12.09.2014]
Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: electron detector * scintillator * cathodoluminescence * single crystal * SEM * DQE * MTF
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0238242