Košík

0426282 - ÚPT 2014 RIV CZ cze V - Výzkumná zpráva
Urbánek, Michal
SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev.
[SMV-2012-19: Topography of thin polymer films.]
Brno: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, 2012. 4 s.
Zdroj financování: N - neveřejné zdroje
Klíčová slova: polymers * atomic force microscopy
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0232039