Košík

0424989 - FZÚ 2014 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Franta, D. - Nečas, D. - Zajíčková, L. - Ohlídal, I. - Stuchlík, Jiří
Advanced modeling for optical characterization of amorphous hydrogenated silicon films.
Thin Solid Films. Roč. 541, AUG (2013), s. 12-16. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: ellipsometry * spectrophotometry * a-Si:H * Urbach tail * localized states * sum rule
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.867, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230959