Košík

0424738 - FZÚ 2014 RIV JP eng M - Část monografie knihy
Fejfar, Antonín
Nano-level characterization of silicon thin films and solar cells.
Solar Cell Technology Handbook. Tokyo: Ohmsha, 2013 - (Konagai, M.), s. 468-478. ISBN 978-4-274-21399-1
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LM2011026
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100101217
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: silicon * thin films * atomic force microscopy * photoresponse
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0230767