Košík

0403923 - UIVT-O 201217 CS1 eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Šebesta, Václav
The Optimization of Mass Production Yield by the Method of Statistical Derivatives.
Circuit theory and design 85. Proceedings of the 1985 European Conference on Circuit Theory and Design. Prague: Academia, 1985 - (Zima, V.), s. 82-85
[ECCTD'85 /7./. Praha (CS), 02.09.1985-06.09.1985]
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0124210