Košík

0399920 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Yurtsever, A. - Sugimoto, Y. - Tanaka, H. - Abe, M. - Morita, S. - Ondráček, Martin - Pou, P. - Pérez, R. - Jelínek, Pavel
Force mapping on a partially H-covered Si(111)-(7x7) surface: Influence of tip and surface reactivity.
Physical Review. B. Roč. 87, č. 15 (2013), "155403-1"-"155403-10". ISSN 1098-0121
Grant CEP: GA ČR(CZ) GPP204/11/P578; GA ČR GAP204/10/0952; GA AV ČR IAA100100905
Grant ostatní: GA AV ČR(CZ) M100101207
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: atomic force microscopy * DFT simulations * silicon surface * surface passivation * electrostatic interaction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 3.664, rok: 2013
http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.87.155403
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0227067