Košík

0398396 - ÚPT 2014 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Šerý, Mojmír
Nanometrology interferometric coordinates measurement system for local probe microscopy.
Sixth International Symposium on Precision Mechanical Measurements (Proceedings of SPIE 8916). Bellingham: SPIE, 2013, 89160C: 1-7. ISSN 0277-786X.
[International Symposium on Precision Mechanical Measurements /6./. Guiyang (CN), 08.08.2013-12.08.2013]
Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA MPO FR-TI2/705; GA TA ČR TA01010995; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT EE2.4.31.0016
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Microscopy * Scanning probe microscopy * Visible radiation * Atomic force microscopy * Metrology * Microscopes
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0225872