Košík

0396259 - FZÚ 2014 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Kužel, R. - Čížek, J. - Novotný, Michal
On X-ray diffraction study of microstructure of ZnO thin nanocrystalline films with strong preferred grain orientation.
Metallurgical and Materials Transactions A. 44A, č. 1 (2013), s. 45-57. ISSN 1073-5623. E-ISSN 1543-1940
Grant CEP: GA ČR(CZ) GAP108/11/0958
Institucionální podpora: RVO:68378271
Klíčová slova: zinc oxide thin film * X-ray diffraction * Mg0 * fused silica
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.730, rok: 2013
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0224096