Košík

  1. 1.
    0386449 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hovorka, Miloš - Konvalina, Ivo - Frank, Luděk - Mikulík, P.
    Mapping of dopants in silicon by electron injection.
    Physic and Nanoscale. (Proceedings of the 10th IUVSTA International Summer School ). Praha: IOP AS CR, 2012 - (Fejfar, A.; Vetushka, A.). ISBN 978-80-260-0619-0.
    [Physics at Nanoscale. IUVSTA International Summer School /10./. Devět skal (CZ), 30.05.2012-04.06.2012]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: mapping of dopants in sillicon * electron injection
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215756
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.