Košík

  1. 1.
    0385784 - ÚPT 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
    Nanometrology coordinate measurement machines uncertainties caused by frequency fluctuations of the laser.
    NANOCON 2012, 4th International Conference Proceedings. Ostrava: TANGER Ltd, 2012, s. 811-816. ISBN 978-80-87294-32-1.
    [NANOCON 2012. International Conference /4./. Brno (CZ), 23.10.2012-25.10.2012]
    Grant CEP: GA ČR GPP102/11/P820; GA ČR GA102/09/1276; GA AV ČR KAN311610701; GA MŠMT ED0017/01/01; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA TA ČR TA02010711; GA MŠMT EE2.4.31.0016
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: interferometry * nanometrology * laser noise * frequency discriminator * atomic force microscopy
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215563
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.