Košík

0384858 - FZÚ 2013 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Bartoš, Igor - Cukr, Miroslav - Jiříček, Petr
Layer-resolved photoelectron diffraction: electron attenuation anisotropy in GaAs.
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 185, 5-7 (2012), s. 184-187. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Grant ostatní: AV ČR(CZ) AP0701
Program: Akademická prémie - Praemium Academiae
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: low-energy electron attenuation in GaAs * layer-resolved photoelectron diffraction * synchrotron radiation
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.706, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214346