Košík

0384214 - FZÚ 2013 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Luňák, M. - Chobola, Z. - Vaněk, J. - Hulicius, Eduard
Low noise as a diagnostic tool for GaSb based laser diodes prepared by Molecular Beam Epitaxy.
28th International Conference on microelectronics. New York: IEEE, 2012, s. 343-346. ISBN 978-1-4673-0238-8.
[International Conference on Microelectronics (MIEL) /28./. Niš (RS), 13.05.2012-16.05.2012]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: noise * spectroscopy * laser
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213931