Košík

0383890 - ÚPT 2013 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Jirák, Josef - Čudek, P. - Neděla, Vilém
Scintillation secondary electron detector for ESEM and SEM.
Microscopy and Microanalysis. Roč. 18, Suppl. 2 (2012), s. 1266-1267. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GAP102/10/1410; GA MŠMT EE.2.3.20.0103
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: environmental scanning electron microscopes * scintillation detector * secondary electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.495, rok: 2012
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0213687