Košík

0375581 - FZÚ 2012 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
Olejníček, Jiří - Kamler, C.A. - Darveau, S.A. - Exstrom, C.L. - Slaymaker, L.E. - Vandeventer, A.R. - Ianno, N.J. - Soukup, R. J.
Formation of CuIn_1−xAl_xSe₂ thin films studied by Raman scattering.
Thin Solid Films. Roč. 519, č. 16 (2011), s. 5329-5334. ISSN 0040-6090. E-ISSN 1879-2731
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100522
Klíčová slova: copper aluminium indium selenide * chalcopyrites * Raman spectroscopy * solar cells * X-ray diffraction
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 1.890, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0208194