Košík

0374576 - ÚFE 2013 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Muller, M. - Žďánský, Karel - Zavadil, Jiří - Piksová, K.
Study of layers of metal nanoparticles on semiconductor wafers for hydrogen detection.
NANOCON 2011, Conference Proceedings, 3 rd International Conference. Brno: TANGER Ltd., Ostrava, 2011, s. 550-554. ISBN 978-80-87294-27-7.
[NANOCON 2011, 3 rd International Conference. Brno (CZ), 21.09.2011-23.09.2011]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20670512
Klíčová slova: semiconductor devices * nanostructures * sensors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0216250