Košík

0372226 - FZÚ 2012 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
Ledinský, Martin - Fejfar, Antonín - Vetushka, Aliaksi - Stuchlík, Jiří - Rezek, Bohuslav - Kočka, Jan
Local photoconductivity of microcrystalline silicon thin films measured by conductive atomic force microscopy.
Physica Status Solidi. Roč. 5, 10-11 (2011), s. 373-375. ISSN 1862-6254. E-ISSN 1862-6270
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA MŠMT(CZ) MEB061012; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
GRANT EU: European Commission(XE) 240826 - PolySiMode
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: amorphous silicon * nanocrystalline silicon * thin films * atomic force microscopy * photoconductivity
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 2.218, rok: 2011
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0205592