Košík

0371198 - ÚPT 2012 FR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Lazar, Josef - Klapetek, P. - Číp, Ondřej - Čížek, Martin - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír
Green Light Interferometry for Metrological SPM Positioning.
Workshop on Metrological Atomic Force Microscope Instrumentation. Paris: LNE, 2011, s. 143.
[Workshop on Metrological Atomic Force Microscope Instrumentation. Trappes (FR), 07.02.2011-09.02.2011]
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GA102/07/1179; GA AV ČR KAN311610701
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: green light interferometry * scanning probe microscopy * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0204775