0356810 - FZÚ 2011 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Ledinský, MartinVliv excitační vlnové délky na měření a interpretaci Ramanovských spekter tenkých vrstev křemíku.
[Effect of excitation wavelength on the measurement and interpretation of the Raman spectra of the silicon thin films.]
Sborník příspěvků zimního odborného a vzdělávacího semináře. Praha: Fyzikální ústav AV ČR, 2010 - (Remeš, Z.), s. 9-12. ISBN 978-80-254-8633-7.
[Zimní odborný a vzdělávací seminář 2010. Rokytnice nad Jizerou (CZ), 11.02.2010-12.02.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠMT LC510
Grant ostatní: AVČR(CZ) M100100902
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
Klíčová slova: excitation wavelength * Raman spectra
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0195237
