Košík

0352194 - ÚPT 2011 RIV CA eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Hrabina, Jan - Lazar, Josef - Číp, Ondřej - Čížek, Martin
Laser Source for Interferometry in Nanometrology.
Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa: International ASET, 2010, 541: 1-6. ISBN 978-0-9867183-0-4.
[Nanotechnology: Fundamentals and Applications. Ottawa (CA), 04.08.2010-06.08.2010]
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06007; GA MŠMT 2C06012; GA MPO 2A-1TP1/127; GA MPO FT-TA3/133; GA MPO 2A-3TP1/113; GA ČR GA102/09/1276; GA ČR GA102/07/1179
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: nanometrology * AFM microscopy * interferometry
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191764