Košík

0346294 - ÚACH 2011 DK eng A - Abstrakt
Bezdička, Petr - Kotulanová, Eva - Klementová, Mariana
Quantitative phase analysis of model painting layers : A comparasion of X-ray micro-diffraction with conventional transmission and reflection geometries.
Acta Crystallographica Section A. Oxford Blackwell. Roč. 65, suppl - abstracts (2009), s. 191. ISSN 0108-7673. E-ISSN 2053-2733.
[European Crystalographic Meeting /25./. 16.08.2009-21.08.2009, Istanbul]
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z40320502
Klíčová slova: micro-diffraction * quantitative phase analysis * art-works
Kód oboru RIV: CA - Anorganická chemie
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0187362