Košík

0340746 - ÚPT 2010 RIV JP eng J - Článek v odborném periodiku
Mikmeková, Šárka - Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Man, O. - Pantělejev, L. - Frank, Luděk
Grain Contrast Imaging in UHV SLEEM.
Materials Transactions. Roč. 51, č. 2 (2010), s. 292-296. ISSN 1345-9678. E-ISSN 1347-5320
Grant CEP: GA MŠMT OE08012
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * electron backscatter diffraction (EBSD) * grain contrast * ultra-fine grained materials
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 0.779, rok: 2010
http://www.jim.or.jp/journal/e/51/02/292.html
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0183927