Košík

  1. 1.
    0332796 - ÚFM 2010 RIV CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Kuběna, Ivo - Kruml, Tomáš
    Optimalizace přípravy mikrokompresních vzorků z tenkých vrstev pomocí fokusvaného iontového svazku.
    [Optimization of preparation of microcompresion specimens from thin films films using focused ion beam.]
    Víceúrovňový design pokrokových materiálů - 2009. Sborník doktorské konference.. Brno: Ústav fyziky materiálů AV ČR, 2009 - (Dlouhý, I.; Švejcar, J.; Mojmír, Š.), s. 95-103. ISBN 978-80-254-6070-2.
    [Víceúrovňový design pokrokových materiálů ´09. Brno (CZ), 03.12.2009]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: focused ion beam * thin film * microcompresion
    Kód oboru RIV: JJ - Ostatní materiály
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0177936
     
     

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.