0322619 - ÚPT 2009 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Runštuk, Jiří - Neděla, VilémKomora pro studium vysoce agresivních vzorků v EREM.
[Chamber for a study of highly-aggressive samples in VP-SEM.]
Interní kód: HS-1 ; 2008
Technické parametry: Nově navržená a zkonstruovaná komora umožňuje studium agresivních vzorků při velmi vysokém tlaku plynů v komoře vzorku EREM tak, aby nedocházelo k poškození mikroskopu.
Ekonomické parametry: Zařízení lze použít v elektronových mikroskopech všech světových výrobců. Významně prodlužuje životnost a zlepšuje parametry mikroskopů v případě, že jsou dlouhodobě používány pro studium agresivních vzorků, jako jsou např. kyseliny.
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: VP-SEM * aggressive samples * chamber
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0170818
