Košík

0302568 - URE-Y 940047 CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Walachová, Jarmila - Miles, R. J. - Collins, D. A. - McGill, T. C.
Characterisation of materials and nanostructures by ballistic electron emission microscopy (BEEM).
Brno: PCDIR, 1994. ISBN 80-85895-02-1. In: Nanometrology Scanning Probe Microscopy and Related Techniques. - (Tománek, P.; Spajer, M.), s. 29-34
[NANO'94. Brno (CZ), 29.08.1994-30.08.1994]
Grant CEP: GA ČR 202/94/1056
Klíčová slova: nanostructured materials * band structure * impurity distribution * semiconductor junctions * measurement
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0112946