Košík

0205712 - UPT-D 20030095 RIV US eng M - Část monografie knihy
Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
Scanning low energy electron microscopy.
Advances in imaging and electron physics Vol. 128. New York: Elesevier Science, 2003 - (Hawkes, P.), s. 309 - 443
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscope * low energy SEM * low energy electron beams
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101325