Košík

  1. 1.
    0205712 - UPT-D 20030095 RIV US eng M - Část monografie knihy
    Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Scanning low energy electron microscopy.
    Advances in imaging and electron physics Vol. 128. New York: Elesevier Science, 2003 - (Hawkes, P.), s. 309 - 443
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
    Klíčová slova: scanning electron microscope * low energy SEM * low energy electron beams
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101325