Košík

0205668 - UPT-D 20030050 RIV CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Mika, Filip
Scanning electron microscopy with low energy electrons.
Proceedings of the 9th Conference and Competition Student EEICT 2003 - Papers written by postgraduate students. Brno: Brno University of Technology, 2003 - (Řezáč, D.; Zacios, D.), s. 485 - 489. ISBN 80-214-2379-X.
[STUDENT EEICT 2003. Brno (CZ), 24.04.2003]
Grant CEP: GA AV ČR KJB2065301
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z2065902
Klíčová slova: scanning electron microscopy * critical energy * nonconductors
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0101281